{"id":299,"date":"2021-11-17T22:05:37","date_gmt":"2021-11-17T22:05:37","guid":{"rendered":"https:\/\/www.facet.unt.edu.ar\/maestriaelectronica\/?page_id=299"},"modified":"2021-11-17T22:31:13","modified_gmt":"2021-11-17T22:31:13","slug":"compatibilidad-electromagnetica","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/www.facet.unt.edu.ar\/maestriaelectronica\/compatibilidad-electromagnetica\/","title":{"rendered":"COMPATIBILIDAD ELECTROMAGN\u00c9TICA"},"content":{"rendered":"<p><strong>Docente a cargo:<\/strong><\/p>\n<p>Dr. Ing. Miguel Angel Cabrera<\/p>\n<p><strong>Descripci\u00f3n<\/strong><\/p>\n<p>La Compatibilidad Electromagn\u00e9tica (CEM) es un concepto que debe ser tenido en cuenta en el dise\u00f1o y fabricaci\u00f3n de sistemas electr\u00f3nicos y toma mayor relevancia dadas las tendencias actuales de aumento de la complejidad, miniaturizaci\u00f3n y reducci\u00f3n de potencia y necesidad de mayor ancho de banda. To-marla en consideraci\u00f3n desde las primeras etapas del dise\u00f1o, es m\u00e1s efectivo en t\u00e9rminos de costos y de desempe\u00f1o del sistema.<\/p>\n<p><strong>Objetivos<\/strong><\/p>\n<p>Desarrollar competencias para proponer soluciones que contemplen implementar modelos, simulaciones y estrategias, que aporten predictibilidad desde la etapa de dise\u00f1o y desarrollo, al comportamiento del circuito integrado o sistemas heterog\u00e9neos ante perturbaciones internas y externas de origen electro-magn\u00e9tico.<\/p>\n<p><strong>Contenidos m\u00ednimos<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Conceptos sobre CEM<\/li>\n<li>Estudio y an\u00e1lisis de supresi\u00f3n de se\u00f1ales indeseadas desde su fuente<\/li>\n<li>T\u00e9cnicas de medici\u00f3n de compatibilidad electromagn\u00e9tica<\/li>\n<li>Identificaci\u00f3n de etapas cr\u00edticas con mayores problemas de CEM<\/li>\n<li>Modelos circuitales capaces de describir y predecir interferencias electromagn\u00e9ticas<\/li>\n<li>Utilizaci\u00f3n de estrategias y metodolog\u00edas aplicadas para el dise\u00f1o de CIs y de sistemas electr\u00f3nicos heterog\u00e9neos teniendo en cuenta la CEM.<\/li>\n<\/ul>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Docente a cargo: Dr. Ing. Miguel Angel Cabrera Descripci\u00f3n La Compatibilidad Electromagn\u00e9tica (CEM) es un concepto que debe ser tenido en cuenta en el dise\u00f1o y fabricaci\u00f3n de sistemas electr\u00f3nicos y toma mayor relevancia dadas las tendencias actuales de aumento de la complejidad, miniaturizaci\u00f3n y reducci\u00f3n de potencia y necesidad de mayor ancho de banda. [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":101025,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.facet.unt.edu.ar\/maestriaelectronica\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/299"}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.facet.unt.edu.ar\/maestriaelectronica\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.facet.unt.edu.ar\/maestriaelectronica\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.facet.unt.edu.ar\/maestriaelectronica\/wp-json\/wp\/v2\/users\/101025"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.facet.unt.edu.ar\/maestriaelectronica\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=299"}],"version-history":[{"count":3,"href":"https:\/\/www.facet.unt.edu.ar\/maestriaelectronica\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/299\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":328,"href":"https:\/\/www.facet.unt.edu.ar\/maestriaelectronica\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/299\/revisions\/328"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.facet.unt.edu.ar\/maestriaelectronica\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=299"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}